近年來，X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。

X熒光光譜儀606系列ROHS無鹵分析儀用于快速測量分析儀電子電機產品中如Cd/Pb/Hg等有害物質含量的儀器，具有輕便、操作簡單等優點。

1、采用原裝電致冷高性能SI-PIN探測器， 分辨率高， 探測范圍寬， 涵蓋ROHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規材料分析的基本要求。

2、配置先進的DPP數字多道信號集成處理器， 比普通模擬多道信號處理器性能佳， 尤其在高計數率時分辨率高(如HG和CI等) 高達80MHZ的數據傳輸速度使分析時間變短，尤其在測量重復性和長期穩定性上有提高。

3、置高清攝像系統清晰觀察樣品，準確定位樣品測試區域。